[发明专利]湿法黑硅制备工艺有效
申请号: | 201811158844.3 | 申请日: | 2018-09-30 |
公开(公告)号: | CN109537058B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 刘斌;黄辉巍;陈正飞 | 申请(专利权)人: | 江苏顺风新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C30B33/10;C30B29/06;H01L31/0236 |
代理公司: | 常州知融专利代理事务所(普通合伙) 32302 | 代理人: | 路接洲 |
地址: | 213000 江苏省常州市武*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种湿法黑硅制备工艺,包括:用氢氧化钾溶液去除硅片表面损伤层;用含有有机掩膜的A1溶液处理上述抛光硅片两次;用氢氟酸和双氧水以及不含金属的B1混合溶液反应,形成纳米结构;用氢氧化钾溶液清洗,去除上述过程中的残留酸液;用氢氟酸、硝酸以及B2的混合溶液,将步骤4所形成的黑硅纳米结构进行扩大化处理;用氢氧化钾溶液,去除上述步骤反应后形成的多孔硅;用氢氟酸和盐酸的混合溶液清洗硅片;将上述清洗后硅片,进行烘干处理,流入后道工序。本发明解决了多晶金刚线制绒困难的问题;可有效降低硅片表面反射率;可有效提高电池转换效率,增加收益;添加剂成分不含重金属,有效避免环保污染问题。 | ||
搜索关键词: | 湿法 制备 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种湿法黑硅制备工艺,其特征在于包括以下步骤:1)将45wt%的氢氧化钠溶液与纯水以体积比1:6‑12混合,在温度75‑85℃去除硅片表面损伤层,时间200‑400S,然后水洗;2)用A1溶液对上述抛光硅片进行预清洗,温度为温度20‑30℃,时间100‑200S,然后水洗;3)重复步骤2);4)用氢氟酸和双氧水以及不含金属的B1混合溶液反应,其中氢氟酸:双氧水:纯水=1:3‑6:2‑10;B1溶液为0.5%‑4%;温度30‑40℃,时间180S‑300S,最终形成纳米结构,即黑硅,然后水洗;5)用45wt%氢氧化钾溶液与纯水以体积比例1:40‑80混合,温度20‑30℃,清洗上述酸液,时间60‑150S;6)将49%wt的氢氟酸与纯水以体积比例1:40‑80混合,温度20‑30℃,时间60‑150S;7)将步骤4)所形成的黑硅纳米结构进行扩大化处理;然后水洗;8)用碱性溶液在温度20‑30℃下去除上述步骤反应后形成的多孔硅,时间100‑200S,然后水洗;9)用酸性清洗硅片,温度20‑30℃,时间100‑300S,然后水洗;10)将上述清洗后硅片,进行烘干处理,流入后道工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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