[发明专利]基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法在审

专利信息
申请号: 201811170448.2 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN109284785A 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 刘俊;刘瑜;丁自然;孙顺;熊伟;董凯;曹先彬;杜文博 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军航空大学;北京航空航天大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 264001 山东省烟*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供了一种基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法,属于传感器网络信息融合技术领域,涉及多源信息质量估计问题。该方法首先利用获取的所有传感器探测数据拟合目标的真实探测轨迹,然后计算各传感器的探测数据与拟合的目标轨迹之间的平均观测偏差,根据估计偏差大小确定探测数据的准确程度,实现对传感器探测数据的质量评估。该方法有效评价了各传感器探测数据的质量,可根据不同任务按需提供不同质量的探测数据,为进一步实现监视区域内目标的态势按需提取提供数据支撑。
搜索关键词: 传感器探测 探测数据 质量评估 最小二乘拟合 传感器数据 信息融合技术 传感器网络 按需提供 大小确定 多源信息 估计偏差 监视区域 目标轨迹 数据拟合 数据支撑 有效评价 质量估计 传感器 拟合 探测 观测
【主权项】:
1.基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)建立传感器探测数据集合;(2)利用均方最小二乘拟合目标的探测航迹,具体为:假设目标的探测位置坐标y是x的函数,即y=f(x),令f(x)=a1r1(x)+a2r2(x)+…+amrm(x)式中,rj(x)是选定的一组线性无关的函数,aj是待定系数(j=1,2,…,m,m<n,n为观测点的个数,m为线性无关组中元素个数),记A=[a1,a2,…,am]T,Y=[y1,y2,…,yn]T通过对函数J(a1,a2,…,am)求极小值,得到A=(RTR)‑1RTY至此,得到目标探测位置坐标y与x的函数关系,即目标的拟合探测轨迹;(3)根据平均观测误差评价各传感器探测数据的质量。
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