[发明专利]电子元件测试设备有效
| 申请号： | 201811183868.4 | 申请日： | 2018-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN111044839B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 梁晋玮 | 申请（专利权）人： | 鸿劲精密股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/40;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;李林 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子元件测试设备，其包含供料装置、测试装置及输送装置，该输送装置是在供料装置处取出至少一具第一面第一接点及第二面第二接点的电子元件，并移入该测试装置的测试承置器，以使电子元件的第一接点电性接触第一测试器的第一传输件，该测试装置以驱动机构驱动具第二传输件的第二测试器位移，使第二测试器的第二传输件电性接触电子元件的第二接点，利用第一测试器及第二测试器对该测试承置器上的电子元件执行复数个预设测试作业，以自动化测试电子元件及缩减转运电子元件动作时序，达到提升测试品质及生产效能的实用效益。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 设备 | ||
【主权项】：
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