[发明专利]一种适用于面粉加工的质量安全控制系统

摘要

本发明公开一种适用于面粉加工的质量安全控制系统，包括面粉加工设备参数采集模块、参数数据处理模块、数据优化分析模块、小麦样本采集模块、杂质含量检测模块、原料样本预处理模块、处理器、存储器、显示屏、报警模块、安全监测模块和通风除尘系统，面粉加工设备参数采集模块用于采集面粉加工设备内部零部件的参数；面粉加工设备参数采集模块包括温度参数采集模块，温度参数采集模块用于采集面粉加工研磨辊工作时研磨辊的温度，本发明通过面粉质量综合值P来判断面粉质量，得到面粉质量综合值P的值越大，表示面粉质量越好，利用降温装置对面粉加工研磨辊进行降温，从而提高面粉的质量。

主权项

1.一种适用于面粉加工的质量安全控制系统，其特征在于，包括面粉加工设备参数采集模块、参数数据处理模块、数据优化分析模块、小麦样本采集模块、杂质含量检测模块、原料样本预处理模块、处理器、存储器、显示屏、报警模块、安全监测模块和通风除尘系统；所述面粉加工设备参数采集模块用于采集面粉加工设备内部零部件的参数；所述面粉加工设备参数采集模块包括温度参数采集模块，所述温度参数采集模块用于采集面粉加工研磨辊工作时研磨辊的温度；所述参数数据处理模块用于接收面粉加工设备参数采集模块的数据信息并将采集的模拟信号转换成数字信号发送至数据优化分析模块；所述数据优化分析模块用于接收参数数据处理模块发送的数字信号并将其优化分析后发送至原料样本预处理模块上；所述数据优化分析模块优化分析具体步骤如下：步骤一：通过温度参数采集模块采集多组研磨辊的温度，标记为T1、T2、……、Tn；步骤二：去除最大温度值和最小温度值，得到T1、T2、……、Tn‑2；步骤三：通过平均值计算,得到温度平均值TP；所述小麦样本采集模块用于采集多组面粉加工用小麦原料；所述杂质含量检测模块用于对小麦原料采集模块采集的多组小麦原料样本进行检测，杂质含量具体检测步骤如下：S1:将采集的小麦原料样本重量依次进行称重，得到的质量标记为M1、M2、……、Mn；S2:将称重后的小麦依次通过风机进行除尘除杂和小麦磁选机进行磁选，筛分后，得到筛分后的小麦原料样本，再次进行称重，称重后标记为m1、m2、……、mn；S3:利用公式得到小麦杂质的百分比记为M_Z，M_Z百分比越大，表示杂质含量越高；所述原料样本预处理模块用于接收杂质含量检测模块和数据优化分析模块的数据并对数据进行处理；原料样本预处理模将处理的数据发送至处理器上，所述原料样本预处理模块对数据优化分析模块的数据处理步骤如下：SS1:将研磨辊在工作时允许的最大温度值记为Tm，研磨辊在工作时的温度值小于Tm，则对面粉加工没有影响，令TP‑Tm＝TC，TC表示为研磨辊工作时测量的温度与允许的最大温度值之间的差值；SS2:设只受研磨辊的温度影响不受小麦原料杂质的影响下生产的面粉质量为U且设定面粉质量的最佳值记为100；所述面粉质量的最佳值是在理想状态下，不受小麦原料杂质和研磨辊温度的影响设定的值；SS3:通过试验计算得出U、TC之间的关系，即面粉质量为U与温度差值之间的函数关系为U＝100‑0.015TC(TC+1)，TC的值越大，即加工时研磨辊的温度越大，面粉质量U的值越小，代表面粉的质量越差；所述原料样本预处理模块对杂质含量检测模块的数据处理步骤如下：SSS1:设面粉质量在只受面粉杂质影响不受面粉加工机械温度的影响下，生产面粉的质量记为V且V的最佳值为100，V的最佳值是在理想状态下，不受面粉杂质影响和面粉加工机械温度的影响，生产出的面粉质量；SSS2:通过试验计算得出V、MZ之间的关系，即V＝100‑99(MZ+0.02)，小麦原料中杂质百分比含量越大，即MZ值越大，得出V的值越小，代表面粉的质量越差；所述处理器接收原料样本预处理模块发送的信息并对信息进行处理；处理过程如下：SSSS1:首先，将只受研磨辊的温度影响不受小麦原料杂质的影响下生产的面粉质量为U、面粉质量在只受面粉杂质影响不受面粉加工机械温度的影响下生产面粉的质量V按预设值进行权重分配；SSSS2:其次，令U的权重分配为J1，V的权重分配为J2，J1+J2＝1，J1>J2；SSSS3:最后，利用公式P＝(U*J1+U*J2)/2,得到面粉质量综合值P；面粉质量综合值P的值越大，表示面粉质量越好。