[发明专利]产品不良分析装置、方法及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201811186081.3 申请日: 2018-10-11
公开(公告)号: CN111047125A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 张德波 申请(专利权)人: 鸿富锦精密电子(成都)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 饶智彬;李艳霞
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种产品不良分析装置,其包括显示单元,所述产品不良分析装置运行有产品不良分析系统,所述产品不良分析系统包括:信息获取模块,用于获取不良产品的特征信息,所述特征信息包括不良项目;大数据分析模块,用于分析所述不良项目产生的多个原因,将所述不良项目产生的多个原因排序,得到不良项目的最优分析步骤,所述最优分析步骤包括多个原因及其相应的分析顺序;可视化指导模块,用于控制显示单元显示不良产品的特征信息及最优分析步骤。上述产品不良分析装置能够提升产品不良分析的效率。本发明同时提供一种产品不良分析方法及计算机可读存储介质。
搜索关键词: 产品 不良 分析 装置 方法 计算机 可读 存储 介质
【主权项】:
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