[发明专利]一种太赫兹成像的校准方法及设备有效
| 申请号： | 201811191952.0 | 申请日： | 2018-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN111044148B | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 武帅;安德越;冯辉;朱剑飞;涂昊;高炳西;李霆 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所;广州地铁集团有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人： | 王林 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太赫兹成像的校准方法及设备，记录每个太赫兹探测单元的温度；保持第一个太赫兹探测单元的温度不变，改变太赫兹探测单元的输出信号，记录此时的各个太赫兹探测单元的温度；改变环境温度，得到多组太赫兹探测单元温度，分别将其存入标准表格；从标准表格中读取其对应的其他太赫兹探测单元的温度，并将其他太赫兹探测单元的温度控制在对应的温度上，实现了每个太赫兹探测单元输出的信号接近。能够实现对太赫兹探测阵列中各个单元进行有效的一致性校准，可以大幅提升太赫兹探测阵列的一致性，有效弥补目前太赫兹探测阵列一致性较差的缺陷，提升太赫兹探测阵列的性能，拓宽太赫兹探测阵列的使用场景，并进一步提升太赫兹成像的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 成像 校准 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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