[发明专利]Flash器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811195846.X 申请日: 2018-10-15
公开(公告)号: CN111048511B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 张松;梁志彬;金炎;王德进 申请(专利权)人: 无锡华润上华科技有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 邓云鹏
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明实施例提出一种Flash器件的多晶硅残留的改善方法,包括:提供衬底,衬底上形成有浮栅多晶层、浮栅氧化层以及隧穿氧化层;浮栅多晶层形成于衬底上,浮栅氧化层形成于衬底与浮栅多晶层之间,衬底上以及浮栅多晶层上形成连续的隧穿氧化层;其中,位于浮栅多晶层其中一侧的衬底区域为第一衬底区,第一衬底区用于形成源极掺杂区;位于浮栅多晶层另一侧的衬底区域为第二衬底区,第二衬底区用于形成漏极掺杂区;在第一衬底区上的隧穿氧化层上形成连续的不导电层,不导电层延伸至浮栅多晶层侧壁的隧穿氧化层上;在隧穿氧化层上形成多晶硅层,以形成控制栅,作为Flash器件的字线。
搜索关键词: flash 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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