[发明专利]测试装置、测试系统和测试方法有效
| 申请号： | 201811197111.0 | 申请日： | 2018-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN109842452B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 黄泓仁;王彦淳;朱镇国;刘伊浚 | 申请（专利权）人： | 台湾福雷电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 中国台湾高雄市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试装置，其包含测试基座和反射器。所述测试基座界定容纳空间。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面。所述反射表面界定发射空间。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，其包括：测试基座，其界定容纳空间；以及反射器，其安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面，其中所述反射表面界定发射空间。
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