[发明专利]phong式光照模型的TOF传感器模型的测距方法有效
申请号: | 201811197742.2 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN109507685B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 徐江涛;李嘉文;聂凯明;史晓琳;高静 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01S17/36 | 分类号: | G01S17/36 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及光学以及TOF成像领域,为可以精确的预测在不同光照强度,距离等因素下,噪声对图像传感器的影响,从而调整以便减小噪声得到最优的效果,希望利用该模型可以模拟TOF图像传感器工作机理以及外部因素对其成像影响,以便分析噪声并进行改善。为此,本发明,基于phong式光照模型的TOF传感器模型的测距方法,步骤如下:(1)第一部分为光源模型,模拟了光线从光源发出打到物体的实际效果;(2)第二部分是基于phong式的光照模型;(3)第三部分是传感器模型,通过计算出的相位得出距离信息。本发明主要应用于TOF成像测距场合。 | ||
搜索关键词: | phong 光照 模型 tof 传感器 测距 方法 | ||
【主权项】:
1.一种phong式光照模型的TOF传感器模型的测距方法,其特征是,步骤如下:(1)第一部分为光源模型,模拟了光线从光源发出打到物体的实际效果,采用如下公式:Ib=I0·fD·cosα其中I0为光源峰值发光强度,Ib为光源发射出的总光强,fD为自定义的距离衰减因数,α为出射光线与法线的夹角,并将得到的光信号传递至下一级光照模型中;(2)第二部分是基于phong式的光照模型,其主要由三部分组成,一部分是环境光Ie,第二部分是漫反射光强Id,第三部分是镜面反射光强Is,其中Ie=Ia·KaId=Ip·Kd·(L·N)Is=Ip·Ks·(V·R)n其中Ia为环境光强度,Ka为环境光散射强度,Ip为点光源光强,Kd为漫反射强度,L为点光源光线入射矢量,N为法线矢量,Ks为镜面反射强度,V为观察者角度矢量,R为镜面反射矢量,n为镜面反射系数,与表面粗糙度有关,n越大则表面越光滑,镜面反射强度随反射角的增大衰减也越快,另外总的光强公式里在漫反射和镜面反射强度前还有个系数fD为光线随距离衰减系数,公式为其中D为距离,a0,a1,a2分别为常数项,一次项,二次项的加权系数,总光强I表达式为其中Ii为多个光源情况下,第i个光源的发光强度,在phong模型的基础上加入时间参数t,从而得到光线随时间变化的衰减程度;并且去掉了phong模型中的环境光成分Ie;并且加入了加和使得可以模拟出多个点光源情况下,距离因素对传感器成像的影响;(3)第三部分是传感器模型,基于正弦调制的TOF主要是通过检测发射的信号和反射回来的信号之间的相位差φ来计算距离,如下式所示,其中f为调制频率;为了获得接收光与发射光的相位差,或者说是获得接收光的相位信息,需要对接收光进行采样四个点,设发射的正弦波为:S(t)=Asin(wt)其中A是振幅,w是角频率,接收光为其中Ar是经过反射之后衰减的振幅,φ是相位差,B是背景光的信号,通过采样计算出相位差从而获得距离信息;分别采样0°,90°,180°,270的四个点,得到四相采样的结果:其中A1,A2,A3,A4分别为四个相位收集到的电子数,所以得到相位φ为:据上式通过计算出的相位得出距离信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811197742.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。