[发明专利]数据通道老化电路、存储器及其老化方法有效
| 申请号： | 201811202829.4 | 申请日： | 2018-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN109087684B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供一种数据通道老化电路、存储器、数据通道老化方法以及存储器老化方法。本公开实施例中的数据通道老化电路包括存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。本公开实施例提供的数据通道老化电路可以提高老化测试结果的可靠性，改善经过老化测试后的集成电路产品的工作稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 数据 通道 老化 电路 存储器 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种数据通道老化电路，用于对集成电路进行老化测试，其特征在于，所述数据通道老化电路包括：存储单元，所述存储单元中存储有用于为所述集成电路中的各个数据通道提供目标电压状态的电压切换信号；控制单元，用于产生电压控制信号，并将所述电压控制信号发送至所述各个数据通道；选通单元，基于所述电压切换信号切换所述各个数据通道的导通状态，利用所述电压控制信号调整所述各个数据通道的电压位准以产生电压应力老化。
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