[发明专利]物体平面度测量方法及装置、存储介质、电子测量设备在审
| 申请号： | 201811223294.9 | 申请日： | 2018-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN109584157A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 唐志峰;薛红影;盖顺华 | 申请（专利权）人： | 苏州优纳科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T3/40 | 分类号： | G06T3/40 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 马永芬 |
| 地址： | 215129 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种物体平面度测量方法及装置、存储介质、电子测量设备，其中方法包括如下步骤：采集待测物体的表面的多个区域图像，每个区域图像的采集位置不同；从多个区域图像中选取相邻的区域图像，并根据相邻的区域图像，获取相邻的区域图像之间的重叠区域；根据重叠区域，计算相邻的区域图像进行拼接的变换矩阵；根据变换矩阵，将每个区域图像拼接到同一平面；根据平面，测量待测物体的平面度。本发明通过从不同方位采集待测物体的多个区域图像，将每个区域图像的局部特征点都变换到同一个全局坐标系下，进而计算待测物体的平面度，在很大程度上，提高了待测物体的平面度测量精度和测量速度，同时提高了待测物体的表面测量范围。 | ||
| 搜索关键词： | 区域图像 待测物体 测量方法及装置 电子测量设备 变换矩阵 存储介质 物体平面 重叠区域 平面度 测量 平面度测量 全局坐标系 采集 表面测量 采集位置 局部特征 拼接 | ||
【主权项】：
1.一种物体平面度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：采集待测物体的表面的多个区域图像，每个区域图像的采集位置不同；从所述多个区域图像中选取相邻的区域图像，并根据所述相邻的区域图像，获取所述相邻的区域图像之间的重叠区域；根据所述重叠区域，计算所述相邻的区域图像进行拼接的变换矩阵；根据所述变换矩阵，将所述每个区域图像拼接到同一平面；根据所述平面，测量所述待测物体的平面度。
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