[发明专利]三维存储器及其形成方法有效
申请号: | 201811228703.4 | 申请日: | 2018-10-22 |
公开(公告)号: | CN111063687B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 李冠儒 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/11556;H01L27/11582 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种三维存储器及其形成方法。三维存储器的形成方法包括:首先,形成一脊状叠层,脊状叠层包括多个导电条带,多个导电条带沿着第一方向叠层于一基材上,且沿着第二方向延伸。接着,沿着第三方向叠层于脊状叠层的垂直侧壁上以形成存储层,存储层包括沿着第一方向延伸的一窄侧壁且具有一长边。之后,在存储层上形成一个通道层,使通道层沿着第三方向叠层于存储层上,且包括一个窄侧壁,窄侧壁具有沿着第一方向延伸的一个长边。此后,形成一覆盖层,覆盖层以第一方向叠层于脊状叠层上,覆盖存储层与通道层。后续,形成导电连接层,导电连接层沿着第二方向叠层于窄侧壁上。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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