[发明专利]一种双冗余通用测试系统有效

专利信息
申请号: 201811230880.6 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN109462516B 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 李岩;蔡远文;姚静波;程龙;解维奇;辛朝军;张宇;杨甘霖 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;H04L1/22
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 陈超
地址: 101416*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种双冗余通用测试系统,包括:基础层、服务层和应用层;所述基础层,设置在前端设备上,为所述服务层提供基于CPCI/PXI总线规范的硬件支撑,以将被测对象和后端设备连接;所述服务层,设置在前端设备和后端设备上,用于基于所述基础层向应用层提供服务功能支持;所述应用层,设置在前端设备和后端设备上,用于基于服务层调用所述基础层以实现对所述基础层的控制,为用户提供与所述前端设备或所述后端设备的交互功能。上述技术方案能够适用于不同的测试系统,通用性较高。
搜索关键词: 一种 冗余 通用 测试 系统
【主权项】:
1.一种双冗余通用测试系统,其特征在于,包括:基础层、服务层和应用层;所述基础层,设置在前端设备上,为所述服务层提供基于CPCI/PXI总线规范的硬件支撑架构,以将被测对象和后端设备连接;所述服务层,设置在前端设备和后端设备上,用于基于所述基础层向应用层提供服务功能支持模块;所述应用层,设置在前端设备和后端设备上,用于基于服务层调用所述基础层以实现对所述基础层的控制,使用户与所述前端设备或所述后端设备进行交互。
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