[发明专利]一种检测银离子迁移的工装装置有效
| 申请号： | 201811240492.6 | 申请日： | 2018-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN109211907B | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 王克香;易伶;刘旭力;吴广东;刘豫东;张崇英;李铮;王京伟;林光;张子玉 | 申请（专利权）人： | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种检测银离子迁移的工装装置，包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 银离子 迁移 工装 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检测银离子迁移的工装装置，其特征在于：包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。
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