[发明专利]磁场漂移的控制方法、装置和存储介质

摘要

本发明实施例公开了一种磁场漂移的控制方法、装置和存储介质。该方法包括：获取预设位置，以及预设位置对应的至少两个匀场片厚度；根据预设位置以及匀场片厚度确定第一匀场片厚度组；基于预设均匀约束函数，计算第一匀场片厚度组对应的均匀约束值，并根据均匀约束值和预设均匀上限值，从第一匀场片厚度组中确定第二匀场片厚度组；基于预设匀场片磁场函数，计算第二匀场片厚度组对应的匀场片平均磁场强度，并根据预设匀场条件和匀场片平均磁场强度，确定目标匀场片厚度组；根据目标匀场片厚度组配置相应预设位置处的匀场片。通过本发明实施例的技术方案，可以降低因匀场片升温而导致的场漂，并保证主磁场的均匀性，提升成像质量。

主权项

1.一种磁场漂移的控制方法，其特征在于，包括：获取预设位置，以及所述预设位置对应的至少两个匀场片厚度；根据所述预设位置以及所述匀场片厚度确定第一匀场片厚度组；基于预设均匀约束函数，计算所述第一匀场片厚度组对应的均匀约束值，并根据所述均匀约束值和预设均匀上限值，从所述第一匀场片厚度组中确定第二匀场片厚度组；基于预设匀场片磁场函数，计算所述第二匀场片厚度组对应的匀场片平均磁场强度，并根据预设匀场条件和所述匀场片平均磁场强度，确定目标匀场片厚度组；根据所述目标匀场片厚度组配置相应预设位置处的匀场片。