[发明专利]一种半导体存储器老化测试的日志管理系统及方法在审

专利信息
申请号: 201811256592.8 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN109257230A 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 艾鹏 申请(专利权)人: 武汉精鸿电子技术有限公司
主分类号: H04L12/24 分类号: H04L12/24
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 胡琦旖
地址: 430070 湖北省武汉市洪*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于日志管理技术领域,公开了一种半导体存储器老化测试的日志管理方法及系统,包括日志服务器端和至少一个日志客户端;日志客户端将运行过程中所生成的日志文件存储到本地,通过控制台对日志文件进行显示,将日志文件发送至日志服务器端;日志服务器端接收并保存日志客户端发送来的日志文件。本发明解决了现有技术中半导体存储器老化测试的日志管理分散、容错性较差的问题,为日志的“分布式收集,统一处理”提供了一个可扩展的,高容错的方案。
搜索关键词: 日志 半导体存储器 日志服务器 老化测试 日志管理 日志文件 客户端 日志管理系统 日志文件存储 控制台 发送 分布式收集 统一处理 运行过程 可扩展 容错性 保存
【主权项】:
1.一种半导体存储器老化测试的日志管理方法,其特征在于,应用于包括日志服务器端和至少一个日志客户端的日志管理系统;所述方法包括:所述日志客户端将运行过程中所生成的日志文件存储到本地,通过控制台对日志文件进行显示,将日志文件发送至所述日志服务器端;所述日志服务器端接收并保存所述日志客户端发送来的日志文件。
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