[发明专利]用于分析测量相同类型的零件的多个测试仪器的性能的方法在审
| 申请号： | 201811256866.3 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109726227A | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | J·赫尔费曼 | 申请（专利权）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/2458 | 分类号： | G06F16/2458;G06F16/248 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该数据处理系统为多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数，为多个数据集中的每一个数据集生成具有等于多个统计参数的分量的数据集向量，使用聚类算法基于数据集向量将每个数据集分配给簇，以及生成作为标签的函数的统计分布的显示，其中属于同一簇的统计分布被分组在一起。 | ||
| 搜索关键词： | 数据集 数据处理系统 统计分布 数据集中 统计参数 向量 标签 计算机可读介质 分组 测试仪器 分析测量 分析数据 聚类算法 指令 分配 | ||
【主权项】：
1.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。
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