[发明专利]微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置有效
| 申请号： | 201811261293.3 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109490737B | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 郭敏;丁志钊;王尊峰;朱学波;徐宝令 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/265;G01R23/18 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 李琳 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 半导体器件 频率 扩展 参数 自动 测试 通用 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于微波半导体器件频率扩展多参数自动测试装置，其特征在于，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。
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