[发明专利]快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法在审
| 申请号： | 201811265635.9 | 申请日： | 2018-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN109540948A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 程大伟;刘明博;胡学强;廖学亮;倪子月;杨博赞;陈吉文 | 申请（专利权）人： | 钢研纳克检测技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 | 代理人： | 李彬;张小娟 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于元素分析检测技术领域，特别涉及一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法。分析仪包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和真空泵；分析方法为：将表面光洁待测样品(501)装入样品杯(305)中，通过电脑(102)控制升降平台(201)将样品杯(305)向上升起，进入样品腔室(303)内的检测位置并采用无油真空泵快速抽真空，可同时测定痕量多个轻元素；检出限可低至1ppm。本发明能够极大降低空气对轻元素特征谱峰的吸收，降低检出限；整个测试无耗材，具有操作简单、无损快速、精确定量、低成本等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 轻元素 分析仪 样品杯 痕量 快速测定 样品腔室 检出限 检测技术领域 无油真空泵 表面光洁 待测样品 高压电源 检测位置 控制升降 升降平台 特征谱峰 元素分析 分析 抽真空 低成本 真空泵 探测器 光管 耗材 机柜 无损 装入 电脑 测试 吸收 | ||
【主权项】：
1.一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和真空泵；其特征在于：所述机柜(101)内部设有一隔板(202)，将机柜(101)分隔为上下两层空间；所述样品腔室(303)固接在隔板(202)的上表面中部，样品腔室(303)的顶部设有X射线光管(301)和探测器(302)，X射线光管(301)发出的X射线从斜上方照射样品上表面，探测器(302)与X射线光管(301)均位于样品上方；所述X射线光管(301)的出射口设有一级准直器(307)；所述样品腔室(303)为快抽、慢泄的真空状态；所述电脑(102)和升降平台(201)布置在机柜(101)的下层空间；用于装载待测样品(501)的所述样品杯(305)可拆卸地安装在升降平台(201)上，并与样品腔室(303)底部的进样口相对应；样品杯(305)通过升降平台(201)向上升起，由进样口进入样品腔室(303)内的检测位置；所述电脑(102)分别与升降平台(201)、真空泵的电磁阀、X射线光管(301)和探测器(302)连接；所述高压电源(306)为X射线光管(301)提供高压电。
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