[发明专利]一种高精度姿态变化量测量方法

摘要

本发明涉及一种高精度姿态变化量测量方法，本测量方法与传统的两经纬仪法的主要区别在于：引入第三台经纬仪作为方位测量基准和焦距基准，并以检查两基准镜正交性作为精度检验手段。使用本测量方法可以提高缓冲基座复位精度测量重复性，使测量精度达到标准要求，适合推广应用。

主权项

1.一种高精度姿态变化量测量方法，包括以下步骤：a)于缓冲基座底板艏艉向和侧向的侧立面安装两个平面反射镜，两镜面法线正交；参考缓冲基座底板，于缓冲基座顶板的相同位置安装两个平面反射镜，两镜面法线正交；b)将缓冲基座置于可调平平板或千斤顶上，以自准直经纬仪依次照准缓冲基座底部两正交镜面，该自准直经纬仪为第一台自准直经纬仪，根据自准直经纬仪水平示数将缓冲基座置平，测量两镜面法线的水平倾角并记录；c)将第一台自准直经纬仪架设在缓冲基座首尾向，照准底板的平面反射镜；在能够与第一台经纬仪互瞄，且能够照准底板侧向平面反射镜的位置架设第二台自准直经纬仪，位置确定后于地面设置标识，保证设备定点使用；d)在距离两台自准直经纬仪五米以外架设第三台自准直经纬仪作为测角基准，第一台和第二台测量用自准直经纬仪依次与第三台自准直经纬仪互瞄，完成坐标系取齐；互瞄过程中第三台自准直经纬仪作为焦距基准，测量过程中焦距不得调整；自准直经纬仪互瞄时首先以望远镜状态对准目标经纬仪内乩标，确保光路轴线对准；e)第一台和第二台自准直经纬仪分别测量各自方向上的底板平面反射镜、顶板平面反射镜，由于顶板、底板的平面反射镜存在高度差，自准直经纬仪需重新架设，架设后必须同第三台自准直经纬仪互瞄，完成坐标系取齐和焦距取齐；f)自准直经纬仪互瞄后，第一台和第二台自准直经纬仪照准镜面时均正、倒向读两次数据后求均值，消除仪器误差；g)测量过程中，根据设备底部两正交镜面的测量值是否与初始测量值吻合检查测量重复精度。