[发明专利]Mura缺陷补偿设备及方法

摘要

本发明提供了一种Mura缺陷补偿设备，涉及AMOLED显示面板生产技术领域。这种Mura缺陷补偿设备包括：机台，其上设有旋转驱动装置；转盘，其设于机台上，并与旋转驱动装置连接，机台沿转盘的周向依次设置有取放工位、IC消除工位、Mura测试工位和烧录工位，转盘上设有测试载具、信号连接器及PG信号发生器；Mura测试组件，其设于转盘的上方，并处于Mura测试工位中，其用于拍摄转至其下方的测试载具上放置的待测AMOLED显示面板的发光图像；以及控制器，其分别与每一PG信号发生器及每一Mura测试组件电性连接。本发明中的Mura缺陷补偿设备，采用转盘来搭载待测AMOLED，且补偿所需的各类器件围绕转盘来设置，使整个设备占用空间小，空间利用率高。

主权项

1.一种Mura缺陷补偿设备，其特征在于，包括：一机台，其上设有旋转驱动装置；一转盘，其设于所述机台上，并与所述旋转驱动装置连接，所述机台沿所述转盘的周向依次设置有取放工位、IC消除工位、Mura测试工位和烧录工位，所述转盘上设有至少一测试载具、至少一信号连接器及至少一PG信号发生器，每一所述测试载具上放置的待测AMOLED显示面板的柔性电路板通过一个所述信号连接器与一个所述PG信号发生器电性连接；至少一Mura测试组件，其设于所述转盘的上方，并处于所述Mura测试工位中，其用于拍摄转至其下方的所述测试载具上放置的待测AMOLED显示面板的发光图像；以及一控制器，其分别与每一所述PG信号发生器及每一所述Mura测试组件电性连接，以根据所述发光图像计算出补偿数据，并利用对应的所述PG信号发生器将所述补偿数据烧录至对应的所述待测AMOLED的集成电路当中。