[发明专利]一种纳米硅基材料中硅含量的测试方法在审
| 申请号： | 201811279362.3 | 申请日： | 2018-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN111122373A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 张庆来 | 申请（专利权）人： | 贝特瑞新材料集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00;G01N1/44 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 518106 广东省深圳市光明*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种纳米硅基材料中硅含量的测试方法，包括以下步骤：1)将纳米硅基材料样品称量后，置于容器中用酸进行加热处理，之后用滤纸过滤，将固体转移至滤纸上得到滤渣；2)将滤纸同滤渣一起转移至耐热容器中，加热至滤纸碳化，之后将耐热容器冷却；3)将耐热容器同加热产物一起在氧化性气氛下进行灼烧，将所述纳米硅基材料样品完全转化为二氧化硅；4)将耐热容器同灼烧产物一起冷却后，进行称量，得到耐热容器和灼烧产物的总重量；5)不使用纳米硅基材料样品，全程进行空白实验，得到空白实验耐热容器的增重；6)计算所述纳米硅基材料样品中的硅含量。本发明提供的测试方法检测准确，精密度高，操作简便，检测范围广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 基材 料中硅 含量 测试 方法 | ||
【主权项】：
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