[发明专利]测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法

摘要

本发明一种测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法，该方法首先切取待测量的无取向硅钢，标明轧向，对无取向硅钢进行磨制和抛光处理；然后抛光好的无取向硅钢放入X射线衍射仪里测量待测量的正方形无取向硅钢的三个不完全极图，然后根据相同磁化方向〈uvw〉计算对应同一类磁化方向〈uvw〉的晶粒在待测量的无取向硅钢中所占的百分比W_〈uvw〉；将不同类型的晶粒的磁感应强度B_〈uvw〉与中计算出W_〈uvw〉相乘，即B_〈uvw〉W_〈uvw〉，将不同类型的晶粒的B_〈uvw〉W_〈uvw〉求和，即得到待测量的无取向硅钢的磁感应强度B。本发明结果准确可靠，该方法具有实用性，弥补了传统方法的不足。

主权项

1.一种测量小晶粒无取向硅钢磁感应强度的方法，其特征在于：包括以下步骤：1)切取待测量的无取向硅钢，标明轧向，对无取向硅钢进行磨制和抛光处理；2)将抛光好的无取向硅钢放入X射线衍射仪里测量待测量的正方形无取向硅钢的三个不完全极图，符号代码分别为J110、J200和J211；3)利用X射线衍射仪内自带的软件对三个不完全极图进行分析；计算得到待测量的无取向硅钢的三维取向分布函数ODF，并通过三维取向分布函数ODF分析，得到待测量的无取向硅钢内不同类型晶粒的磁化方向晶粒的磁化方向〈uvw〉和晶面{hkl}，根据磁化方向〈uvw〉和晶面{hkl}确定待测量的无取向硅钢内各晶粒的类型{hkl}〈uvw〉并确定待测量的无取向硅钢内不同类型晶粒的相同磁化方向，然后根据相同磁化方向〈uvw〉计算对应同一类磁化方向〈uvw〉的晶粒在待测量的无取向硅钢中所占的百分比W〈uvw〉；其中，〈uvw〉代表晶粒类型磁化方向，uvw为晶向指数，编号为001、….111、….521、…，{hkl}代表晶面，且hkl为晶面指数，编号为001、….111、….521、…..；4)计算不同磁化方向〈uvw〉的晶粒的磁感应强度B〈uvw〉B〈uvw〉＝K〈uvw〉B〈001〉   (1)K〈uvw〉＝(1‑m)   (2)m＝α2β2+β2γ2+γ2α2   (3)其中，K〈uvw〉为磁晶各向异性常数，〈uvw〉代表晶粒类型磁化方向，uvw为晶向指数，编号为001、….111、….521、…，uvw的数值大小能确定该类型晶粒的磁感应强度的大小即B〈uvw〉，B〈001〉是待测量的无取向硅钢〈001〉方向的磁感应强度，(〈001〉方向是最易磁化方向，〈111〉方向是最难磁化方向)；m为与晶粒磁化方向〈uvw〉晶向指数有关的常数；α、β和γ分别是该类型晶粒的磁化方向即〈uvw〉方向与三个主晶轴〈001〉的方向余弦；5)计算试样的磁感应强度B：将不同类型的晶粒的磁感应强度B〈uvw〉与步骤3)中计算出W〈uvw〉相乘，即B〈uvw〉W〈uvw〉，将不同类型的晶粒的B〈uvw〉W〈uvw〉求和，即得到待测量的无取向硅钢的磁感应强度B，即B＝∑B〈uvw〉W〈uvw〉。