[发明专利]旁瓣相消中展宽零陷的方法有效

专利信息
申请号: 201811293682.4 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN109507643B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 刘子威;张更新;赵珊珊;曾敬 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: G01S7/28 分类号: G01S7/28;G01S7/292
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 姚姣阳
地址: 210046 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明揭示了一种旁瓣相消中展宽零陷的方法,包括如下步骤:S1、分别获得雷达接收的主阵列训练样本和辅助阵列训练样本;S2、确定零陷需要展宽的宽度;S3、计算主阵列的扰动向量和辅助阵列的扰动向量:S4、计算获得扰动后的主通道训练样本和辅助通道训练样本;S5、对扰动后的主通道训练样本进行波束形成,得到主通道期望输出;S6、计算协方差矩阵和互相关向量;S7、计算展宽后的旁瓣相消权值,并进行旁瓣相消。本发明的方法在旁瓣相消自适应权值训练阶段对训练快拍进行扰动,使得旁瓣相消的合成方向图在干扰方向形成宽零陷,从而提高了雷达在非平稳干扰场景下的抗干扰能力。
搜索关键词: 旁瓣相消中 展宽 方法
【主权项】:
1.一种旁瓣相消中展宽零陷的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、在旁瓣相消阶段中分别获得雷达接收的N个主阵列训练样本xmain(n)和辅助阵列训练样本xaux(n);S2、根据雷达工作参数及实际探测情况,确定零陷需要展宽的宽度Δ;S3、根据零陷需要展宽的宽度Δ,确定主通道训练样本xmain(n)需要的N个L×1维扰动向量Emain(n)和辅助通道训练样本xaux(n)需要的N个M×1维扰动向量Eaux(n);S4、利用扰动向量Emain(n)和Eaux(n)分别对主通道训练样本xmain(n)和辅助通道训练样本xaux(n)进行Hadamard积,得到扰动后的主通道训练样本和辅助通道训练样本S5、根据系统预设的主通道波束形成权值WCBF,对扰动后的主通道训练样本进行波束形成,得到主通道期望输出ymain(n);S6、使用扰动后的辅助通道训练样本和主通道期望输出ymain(n)计算协方差矩阵R和互相关向量P;S7、利用协方差矩阵R和互相关向量P计算展宽后的旁瓣相消权值w,并进行旁瓣相消。
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