[发明专利]集成半导体装置在审
申请号: | 201811295405.7 | 申请日: | 2018-11-01 |
公开(公告)号: | CN109860170A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 彭成毅;吕俊颉;萧孟轩;叶凌彦;卡罗司·迪亚兹;李东颖 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L21/822 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 集成半导体装置包含第一半导体装置、层间介电层以及第二半导体装置。第一半导体装置具有第一晶体管结构。层间介电层是在第一半导体装置上。层间介电层的厚度实质为10nm至100nm。第二半导体装置是在层间介电层上且具有作为第二晶体管结构的通道层的二维材料层。 | ||
搜索关键词: | 半导体装置 层间介电层 集成半导体装置 晶体管结构 二维材料 厚度实质 通道层 | ||
【主权项】:
1.一种集成半导体装置,其特征在于,包含:一第一半导体装置,具有一第一晶体管结构;一层间介电层,在该第一半导体装置上,其中该层间介电层的一厚度实质为10nm至100nm;以及一第二半导体装置,具有一第二晶体管结构,其中该第二半导体装置具有一二维材料层,且该二维材料层是形成在该层间介电层上并作为该第二晶体管结构的一通道层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的