[发明专利]一种快速且精准地获取组织样本神经元胞体位置的方法有效
| 申请号： | 201811295425.4 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN110458923B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 袁菁;李安安;钟秋园;龚辉;骆清铭 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学苏州脑空间信息研究院 |
| 主分类号： | G06T15/00 | 分类号： | G06T15/00;G01N21/84 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 张宇娟 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种快速且精准地获取组织样本神经元胞体位置的方法，然后在下一轮切割及成像过程中获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息，且下一轮切割及成像时间大于获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息的时间且小于获得已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置信息的时间的5倍，使得整个样本切割及成像完成后，只需要花费很少的时间完成最后一批表层图像中的胞体位置信息及整个组织样本的神经元胞体位置信息，从而大大缩短获得整个组织样本的神经元胞体位置信息的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 精准 获取 组织 样本 神经元 体位 方法 | ||
【主权项】：
1.一种快速且精准地获取组织样本神经元胞体位置的方法，其特征在于，包括如下步骤：/n步骤a，对高度呈H的组织样本从一端开始对h厚度的表层进行成像，形成细胞形态清晰的表层图像，然后对完成成像的h厚度的表层进行切割；/n步骤b，连续重复步骤a，其中，完成多个h厚度的表层的成像及切割所需时间为t1，其中h<<H；/n步骤c，顺序完成与所述步骤b中已完成成像及切割的多个h厚度的表层相邻的另一多个h厚度的表层的成像及切割，在步骤c中成像及切割过程中对已完成成像及切割的部分或全部厚度的表层图像的细胞位置进行计算，以确定所述部分及全部厚度的表层图像中的细胞在三维空间中的位置信息，计算所述细胞位置所需时间为t2，其中，t2≤t1≤5t2；/n步骤d，重复步骤b、c，相邻的用于计算细胞位置的表层图像依次顺接，直到完成最后一部分表层图像中的细胞在三维空间中的位置信息后，将多个表层图像中的细胞位置信息进行融合，以获得全部组织样本的细胞在三维空间中的位置信息。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学苏州脑空间信息研究院，未经华中科技大学苏州脑空间信息研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811295425.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：图形渲染方法及相关产品
- 下一篇：一种三维脸部模型建立方法、装置和电子设备
