[发明专利]测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置在审
| 申请号： | 201811296862.8 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109166507A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 廖中伟;樊超;赵永强;蒋冬舜;陈胡建 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 赵天月 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置。具体的，本发明提出了一种测试元件组，包括：设置在基板上的电性连接的多个薄膜晶体管以及多个测试接口，其中，至少两个所述薄膜晶体管的栅极与同一个所述测试接口相连。由此，在利用该测试元件组对阵列基板进行电学性能测试时，每次可对多个薄膜晶体管进行检测，进而检测一定数量薄膜晶体管的时间可以大大减小，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜晶体管 测试元件组 电学性能测试 测试接口 显示装置 阵列基板 基板 测试效率 电性连接 检测 减小 | ||
【主权项】：
1.一种测试元件组，其特征在于，包括：设置在基板上的电性连接的多个薄膜晶体管以及多个测试接口，其中，至少两个所述薄膜晶体管的栅极与同一个所述测试接口相连。
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