[发明专利]感光芯片不同入射角响应度测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201811299560.6 | 申请日： | 2018-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN109612690A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 冯鹏;唐锋;王向朝 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种感光芯片不同入射角响应度的测量装置及测量方法，测量装置包括准直激光器、光衰减器、带感光芯片相机、旋转位移台。采用上述测量装置测量待测感光芯片不同入射角的响应度。本发明具有结构简单，易实现的特点，能快速有效的测量感光芯片在接收来自不同方向不同入射角的光束的响应度。 | ||
| 搜索关键词： | 感光芯片 测量装置 入射角 响应度 测量 准直激光器 光衰减器 旋转位移 相机 | ||
【主权项】：
1.一种感光芯片不同入射角响应度的测量装置，其特征在于，包括准直激光器(1)、光衰减器(2)、带感光芯片的相机(3)、旋转位移台(4)，所述的带有感光芯片的相机(3)是将待测的感光芯片置于所述的相机(3)构成的，所述的带有感光芯片的相机(3)固定在所述的旋转位移台(4)上，所述的准直激光器(1)输出的准直光通过光衰减器(2)衰减后，准直地入射至带感光芯片的相机(3)的感光芯片光敏面。
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