[发明专利]针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法在审
| 申请号： | 201811300539.3 | 申请日： | 2015-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN109613036A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李海峰 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种XRF元素测定方法，包括：制备多个最终滤片；依次将该最终滤片加载至未知样品的XRF测定处，分别获得该未知样品和每个该最终滤片共有的该待测元素的含量信息；根据所有该含量信息，获得该未知样品的该待测元素的含量。本发明能够对任意基体材料的样品进行快速而准确的测试，克服X射线荧光光谱仪的缺陷之一，即一般需要针对待测基体如塑料、土壤等先用相应基体的标准物质如塑料、土壤等对仪器校准后方可使用的限制，不需要基体标准物质校准仪器，直接测定，成本低，方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 滤片 元素测定 含量信息 制备 基体标准物质 塑料 标准物质 基体材料 校准仪器 仪器校准 直接测定 测定盒 土壤 加载 测试 | ||
【主权项】：
1.一种XRF元素测定方法，其特征在于，包括：制备多个最终滤片；依次将该最终滤片加载至未知样品的XRF测定处，分别获得该未知样品和每个该最终滤片共有的该待测元素的含量信息；根据所有该含量信息，获得该未知样品的该待测元素的含量。
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