[发明专利]用于修复有缺陷的串的方法和非易失性存储器器件有效
| 申请号： | 201811301816.2 | 申请日： | 2018-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN109754842B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 沈善一 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/32 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 非易失性存储器器件可以用修复存储器块的替换串选择线替换连接到多个存储器块中的有缺陷的存储器块的有缺陷的串的缺陷串选择线；以及访问修复存储器块的替换串选择线而不是有缺陷的存储器块的缺陷串选择线。非易失性存储器器件以串选择线为单位执行修复操作，并且可以有效地使用修复资源。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 修复 缺陷 方法 非易失性存储器 器件 | ||
【主权项】：
1.一种修复包括多个存储器块的非易失性存储器器件的有缺陷的串的方法，所述方法包括：用修复存储器块的替换串选择线替换连接到所述多个存储器块中的有缺陷的存储器块的有缺陷的串的有缺陷的串选择线；以及访问所述修复存储器块的所述替换串选择线而不是所述有缺陷的存储器块的所述有缺陷的串选择线。
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