[发明专利]具有改良感测的磁电阻内存结构及相关感测方法有效

专利信息
申请号: 201811310386.0 申请日: 2018-11-06
公开(公告)号: CN110120235B 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 阿希尔斯·加史瓦;阿乔伊·P·雅各布;毕尔·C·保罗;威廉·泰勒;岑柏湛 申请(专利权)人: 格芯(美国)集成电路科技有限公司
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及具有改良感测的磁电阻内存结构及相关感测方法,其中,一种磁电阻内存(MRM)结构包括源极线与包括源极区及漏极区的第一晶体管。该源极线电气连接至该第一晶体管的该源极区。该MRM结构进一步包括MRM单元,该MRM单元包括与MRM磁性穿隧接面(MTJ)电气串联的MRM晶体管。该MRM晶体管电气连接至该第一晶体管的该漏极区,致使该MRM单元与该第一晶体管电气串联。另外,该MRM结构进一步包括电气连接至该第一晶体管与该MRM晶体管的中点节点的电压放大器,电气连接至该电压放大器的感测放大器,且电气连接至该MRM单元的该MRM MTJ的位线。
搜索关键词: 具有 改良 磁电 内存 结构 相关 方法
【主权项】:
1.一种磁电阻内存(MRM)结构,包含:源极线;第一晶体管,包含源极区与漏极区,其中,该源极线电气连接至该第一晶体管的该源极区;MRM单元,包含与MRM磁性穿隧接面(MTJ)电气串联的MRM晶体管,其中,该MRM晶体管电气连接至该第一晶体管的该漏极区,致使该MRM单元与该第一晶体管电气串联;电压放大器,电气连接至该第一晶体管与该MRM晶体管的中点节点;感测放大器,电气连接至该电压放大器;以及位线,电气连接至该MRM单元的该MRM MTJ。
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