[发明专利]X射线荧光光度计有效
| 申请号： | 201811312657.6 | 申请日： | 2018-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN109752402B | 公开（公告）日： | 2023-08-18 |
| 发明（设计）人： | U.瓦尔德施莱格;R.A.塔格莱贝尔丹 | 申请（专利权）人： | 布鲁克纳米有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 毕铮;闫小龙 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测量由目标（7）发射的X射线荧光的X射线荧光XRF光度计（10），其中XRF光度计（10）包括具有发射发散的X射线波束（3a）的阳极（2）的X射线管（1）、被配置成将发散的X射线波束（3a）聚焦在目标（7）上的毛细管透镜（6）、定位在X射线管（1）的阳极（2）与毛细管透镜（6）之间并且包括至少一个针孔（9a，9b）的孔径系统（4），以及被配置用于检测由目标（7）发射的X射线荧光辐射的检测器（8），其中至少一个针孔（9a，9b）被配置用于插入到发散的X射线波束（3a）中并且用于减小阳极（2）与毛细管透镜（6）之间的发散的X射线波束（3a）的波束截面（5a）。本发明还涉及用于光度计（10）的孔径系统（4）、用于调节光度计（10）的焦深的孔径系统（4）的用途以及用于调节光度计（10）的焦深的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 光度计 | ||
【主权项】：
1.用于测量由目标（7）发射的X射线荧光的X射线荧光XRF光度计（10），所述XRF光度计（10）包括：具有发射发散的X射线波束（3a）的阳极（2）的X射线管（1）；被配置成将发散的X射线波束（3a）聚焦在目标（7）上的毛细管透镜（6）；定位在X射线管（1）的阳极（2）与毛细管透镜（6）之间并且包括至少一个针孔（9a，9b）的孔径系统（4）；以及被配置用于检测由目标（7）发射的X射线荧光辐射的检测器（8），其中所述至少一个针孔（9a，9b）被配置用于插入到发散的X射线波束（3a）中并且用于减小阳极（2）与毛细管透镜（6）之间的发散的X射线波束（3a）的波束截面（5a）。
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