[发明专利]OLED显示装置在审

专利信息
申请号: 201811324332.X 申请日: 2018-11-08
公开(公告)号: CN109256464A 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 罗光跃 申请(专利权)人: 深圳市万普拉斯科技有限公司
主分类号: H01L51/00 分类号: H01L51/00;H01L51/52;H01L27/32
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 逯恒
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种OLED显示装置,包括相对设置的OLED基板与封装盖板以及设于所述OLED基板与封装盖板之间的密封连接层,所述OLED基板中设有环绕所述OLED基板周边并且对应所述密封连接层外围设置的第一检测电路,所述封装盖板上设有环绕所述封装盖板周边并且对应所述密封连接层外围设置的第二检测电路,所述第一检测电路用于检测所述OLED基板边缘的开裂状况,所述第二检测电路用于检测所述封装盖板边缘的开裂状况。本发明的OLED显示装置能够利用自身检测电路实现边缘区域开裂状况的检测,避免不良产品流入市场。
搜索关键词: 封装盖板 密封连接 第二检测 检测电路 检测 电路 环绕 外围 边缘区域 不良产品 电路实现 相对设置 自身检测
【主权项】:
1.一种OLED显示装置,其特征在于,包括相对设置的OLED基板与封装盖板以及设于所述OLED基板与封装盖板之间的密封连接层,所述OLED基板中设有环绕所述OLED基板周边并且对应所述密封连接层外围设置的第一检测电路,所述封装盖板上设有环绕所述封装盖板周边并且对应所述密封连接层外围设置的第二检测电路,所述第一检测电路用于检测所述OLED基板边缘的开裂状况,所述第二检测电路用于检测所述封装盖板边缘的开裂状况。
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