[发明专利]一种IC芯片测试系统和方法有效
| 申请号： | 201811326449.1 | 申请日： | 2018-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN109324281B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 张浩亮;谭鑫 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 519070*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IC芯片测试系统和方法，用以解决无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。系统包括：测试机台，时钟模块和控制模块；控制模块分别与时钟模块和测试机台连接；测试机台根据每种测试模式对应的信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的目标信息，发送给控制模块；时钟模块用于计时；控制模块根据目标信息，确定目标测试模式对应的高、低电平的时长；根据高电平的第一时长和低电平的第二时长，时钟模块的计时时间，确定目标脉冲序列；将目标脉冲序列输出给测试机台，不同的测试模式对应的脉冲序列不同；测试机台显示目标脉冲序列，测试人员及时准确地根据目标脉冲序列确定出IC芯片当前进入的测试模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种IC芯片测试系统，其特征在于，包括：测试机台，时钟模块和控制模块；所述控制模块分别与所述时钟模块和所述测试机台连接；所述测试机台，用于根据预先保存的每种测试模式对应的信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的目标信息，并发送给所述控制模块；所述时钟模块，用于计时；所述控制模块，用于接收测试机台发送的所述目标信息；根据所述目标信息，确定IC芯片当前进入的目标测试模式对应的高电平的第一时长和低电平的第二时长；根据所述高电平的第一时长和所述低电平的第二时长，以及所述时钟模块的计时时间，确定目标脉冲序列；将所述目标脉冲序列输出给所述测试机台，其中，不同的测试模式对应的脉冲序列不同；所述测试机台，还用于显示所述目标脉冲序列。
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