[发明专利]X射线测量装置有效
| 申请号： | 201811334347.4 | 申请日： | 2018-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN109946329B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 三好寿顕;藤原健;加藤英俊;铃木良一 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社;国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01N23/04 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人： | 汪飞亚;习冬梅 |
| 地址： | 日本国大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明能够在不使用捕捉微弱的X射线的特别结构的情况下检测X射线，使后方散射X射线像成像。本发明的X射线测量装置具备：X射线照射部(10)，其对测量对象(2)照射X射线；传感器(20)，其对与在测量对象(2)上反射的后方散射X射线对应的电信号进行检测；测量部(40)，其参照传感器(20)输出的电信号来测量测量对象(20)；以及重金属板(30)，其使后方散射X射线通过，并形成有使后方散射X射线在传感器(20)上成像的针孔(32)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线测量装置，其特征在于，具备：X射线照射部，其对测量对象照射X射线；X射线检测部，其检测与在上述测量对象上反射的后方散射X射线对应的电信号；测量部，其参照由上述X射线检测部检测出的电信号来测量上述测量对象；以及开口部，其使上述后方散射X射线通过，并形成有使上述后方散射X射线在上述X射线检测部上成像的开口。
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