[发明专利]损坏模式确定方法及装置、电子设备、存储介质有效
| 申请号： | 201811334416.1 | 申请日： | 2018-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN111178374B | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 陈予郎;潘晓东 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/764 | 分类号： | G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种损坏模式确定方法及装置、电子设备、存储介质，涉及集成电路技术领域，该方法包括：对目标芯片中的目标阵列进行划分得到多个预设图，所述目标芯片中包括多个失效位元；通过深度学习模型对所述多个预设图进行分类，确定各所述预设图的类别；确定目标类别对应的预设图中由所述失效位元组成的潜在损坏模式的组合，并在所述潜在损坏模式的组合满足预设条件时确定所述目标阵列的目标损坏模式。本公开能够减小计算量，减小计算成本，能够快速确定目标损坏模式，进而提高芯片良率。 | ||
| 搜索关键词： | 损坏 模式 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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