[发明专利]透光屏蔽薄膜的屏蔽效能预测试方法、装置及系统在审
| 申请号： | 201811341059.1 | 申请日： | 2018-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN109444560A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 葛欣宏;李旭;张鹰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种透光屏蔽薄膜的屏蔽效能预测试系统、方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中，待测光学设备的电子系统放置于金属箱体内，金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，光学玻璃上设置透光屏蔽薄膜；电磁屏蔽效能计算装置根据电磁波信号采集装置采集的从金属箱体向外出射的第一电磁波强度值和第二电磁波强度值计算透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值，第一电磁波强度值为设置透光屏蔽薄膜的金属箱体出射的电磁波信号强度值，第二电磁波强度值为没有设置透光屏蔽薄膜的金属箱体出射的电磁波信号强度值。本申请实现了光学成像类设备在研制阶段前期准确选择匹配的透光屏蔽薄膜，降低光学成像类设备的研制成本。 | ||
| 搜索关键词： | 屏蔽薄膜 透光 金属箱体 电磁波 电磁波信号 屏蔽效能 光学玻璃 光学成像 预测试 出射 计算机可读存储介质 全封闭箱体结构 电磁屏蔽效能 装置及系统 采集装置 电子系统 光学设备 计算装置 匹配 采集 外出 申请 | ||
【主权项】：
1.一种透光屏蔽薄膜的屏蔽效能预测试系统，其特征在于，包括金属箱体、电磁波信号采集装置及电磁屏蔽效能计算装置；处于研制阶段的待测光学设备的电子系统放置于所述金属箱体内，所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述光学玻璃上设置透光屏蔽薄膜；所述透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；所述电磁波信号采集装置用于采集从所述金属箱体向外出射的电磁波信号，并将采集的电磁波信号发送至所述电磁屏蔽效能计算装置中；所述电磁屏蔽效能计算装置用于根据接收到的第一电磁波信号强度值和第二电磁波信号强度值计算所述透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值，所述第一电磁波强度值为设置所述透光屏蔽薄膜的所述金属箱体出射的电磁波信号强度值，所述第二电磁波强度值为没有设置所述透光屏蔽薄膜的所述金属箱体出射的电磁波信号强度值。
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