[发明专利]一种反熔丝存储器自检测和自修复方法在审
申请号: | 201811345443.9 | 申请日: | 2018-11-13 |
公开(公告)号: | CN109524050A | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 孙轶君 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 |
主分类号: | G11C29/18 | 分类号: | G11C29/18;G11C29/44;G11C17/16 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 李巨智 |
地址: | 110032 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及一种反熔丝存储器自检测和自修复方法,所述反熔丝存储器设置冗余存储单元;编程器对当前地址写入数据,进行编程操作,并在编程结束后对编程的地址进行读操作,将读取的数据通过总线送至编程器;编程器将读取的数据发送给上位机,由上位机将读取的数据与写入的数据进行比较,并将比较结果发送给编程器,如果比较结果一致,则进行下一位地址的编程操作,如果比较结果不一致,则利用冗余存储单元替换产生该结果的地址单元。本发明使用冗余结构来提高存储器电路的可靠性,实现在同一芯片内部进行了自检测和自修复,提高了电路调节的灵活性,使电路的普适性提高,降低电路的维护及使用成本。 | ||
搜索关键词: | 编程器 读取 反熔丝存储器 自检测 自修复 冗余存储单元 编程操作 上位机 编程 电路 地址写入数据 存储器电路 地址单元 电路调节 冗余结构 数据通过 不一致 读操作 普适性 数据发 位地址 总线 替换 写入 芯片 维护 | ||
【主权项】:
1.一种反熔丝存储器自检测和自修复方法,其特征在于:所述反熔丝存储器设置冗余存储单元;该方法包括以下步骤:步骤1:编程器对当前地址写入数据,进行编程操作,并在编程结束后对编程的地址进行读操作,将读取的数据通过总线送至编程器;步骤2:编程器将读取的数据发送给上位机,由上位机将读取的数据与写入的数据进行比较,并将比较结果发送给编程器,如果比较结果一致,则进行下一位地址的编程操作,如果比较结果不一致,则利用冗余存储单元替换产生该结果的地址单元。
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