[发明专利]一种Dual Port SSD的SI测试方法、装置有效
| 申请号： | 201811353645.8 | 申请日： | 2018-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN109448779B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 武丽伟 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种Dual Port SSD的SI测试方法、装置、介质及设备，该方法包括：利用目标Riser卡将目标存储器中控制器上的第一clock和第二clock引出；其中，目标Riser卡中的第一clock和第二clock预先通过走线连接；利用目标Riser卡将X4治具与控制器上的第一clock和第二clock建立通信连接，以利用X4治具对目标Dual Port SSD进行SI测试。显然，通过本申请中的方法，可以利用价格较低的X4治具对目标Dual Port SSD进行SI测试，由此免去了对X2治具高昂的购买成本，从而大大降低了对Dual Port SSD进行SI测试的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dual port ssd si 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种Dual Port SSD的SI测试方法，其特征在于，包括：利用目标Riser卡将目标存储器中控制器上的第一clock和第二clock引出；其中，所述目标Riser卡中的第一clock和第二clock预先通过走线连接；利用所述目标Riser卡将X4治具与所述控制器上的第一clock和第二clock建立通信连接，以利用所述X4治具对目标Dual Port SSD进行SI测试。
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