[发明专利]复杂点阵镂空结构CT尺寸测量方法有效

专利信息
申请号: 201811355694.5 申请日: 2018-11-14
公开(公告)号: CN109556542B 公开(公告)日: 2020-10-20
发明(设计)人: 高小松;孙利;杨耀东;马宁;刘洋;李晶;荣健;吕海青 申请(专利权)人: 北京卫星制造厂有限公司
主分类号: G01B15/04 分类号: G01B15/04
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 武莹
地址: 100190*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 复杂点阵镂空结构CT尺寸测量方法,首先通过复杂点阵镂空结构CT成像质量影响因素分析、CT检测策略制定和确定检测参数、CT图像处理技术研究,获得最佳的图像处理方法,然后通过图像边界提取技术、图像边界提取理论计算方法分析和边界提取理论计算方法的研究以及理论算法的验证,获得精确提取复杂点阵镂空结构内部轮廓边界的理论计算方法,最后通过设计尺寸测量误差校准标准试件,应用复杂点阵镂空结构内部轮廓边界的提取算法,对复杂点阵镂空结构CT检测尺寸测量误差进行校准,建立一种复杂点阵镂空结构CT尺寸测量方法,解决复杂点阵镂空结构检测难题。
搜索关键词: 复杂 点阵 镂空 结构 ct 尺寸 测量方法
【主权项】:
1.复杂点阵镂空结构CT尺寸测量方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1:对复杂点阵镂空结构进行CT扫描,获得复杂点阵镂空结构CT图像;步骤2:将CT图像进行滤波降噪,逐级统计复杂点阵镂空结构CT图像灰度值的数值,拟合一条开口向上的曲线,取曲线波谷处的灰度值,并记为阈值ε;步骤3:将复杂点阵镂空结构CT图像采用重叠的方式拆分成多个图像块,并将图像块按从上到下、从左到右的顺序排成行,每一图像块内部像素按从上到下、从左到右的顺序排成列,构成新的图像矩阵φ;步骤4:新的图像矩阵φ中的每一个元素减去该元素所在列的平均值,实现新的图像矩阵φ的归一化,得到矩阵blocks;步骤5:根据得到的阈值,利用K‑SVD算法更新字典和稀疏模型解算原理,对矩阵blocks进行稀疏编码和影像重构,再将重构的blocks矩阵的每个列向量转换为图像块,从而得到滤波后的CT图像;步骤6:利用形态学理论开运算制作背景图像,然后将滤波后的CT图像减去背景图像;步骤7:将CT图像进行边界提取,计算每个连通区域的中心坐标;步骤8:将各个连通区域以各个连通区域中心为原点,以形状先验信息为参数画椭圆,记录椭圆边线的(x,y)坐标,进而计算焦点坐标;步骤9:判断图像各像素是否在椭圆内,如果像素在椭圆区域外,则舍去原始图像中的像素,如果在椭圆区域内,则保留原始图像中的像素,遍历图像所有像素;步骤10:制作复杂点阵镂空结构CT图像边界提取标准试件,采用三坐标测量机对复杂点阵镂空结构CT图像边界提取标准试件进行尺寸测量,获得标定值;步骤11:对复杂点阵镂空结构CT图像边界提取标准试件进行CT扫描,得到CT图像,然后重复步骤2‑步骤10,获得CT图像提取边界的尺寸测量值,与标定值作差,获得尺寸测量误差;步骤12:对尺寸测量误差进行校准,然后采用校准后的CT图像边界提取方法对点阵镂空结构内部轮廓尺寸进行测量,获得复杂点阵镂空结构内部轮廓尺寸。
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