[发明专利]等离子体处理装置有效
申请号: | 201811365489.7 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109801827B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 佐佐木芳彦;南雅人 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;刘芃茜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种等离子体处理装置。等离子体蚀刻装置具有构成基片载置台(130)的载置面的静电吸盘(132)的绝缘层(145),其中,该基片载置台(130)用于载置作为等离子体处理的对象的基片。绝缘层(145)包括氧化铝、氧化钇和硅化合物。另外,等离子体蚀刻装置(30)具有吸附电极(146),该吸附电极(146)设置在绝缘层(145)内,通过对其施加规定的电压来吸附基片。吸附电极(146)由含镍金属或者含铬金属形成。本发明即使在进行干式清洁的情况下,也能够提高载置台对等离子体的耐受性。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,其特征在于,包括:构成载置台的载置面的绝缘层,其中,所述载置台用于载置作为等离子体处理的对象的被处理件,所述绝缘层包括氧化铝、氧化钇和硅化合物;和设置在所述绝缘层内的吸附电极,其由含镍金属或者含铬金属形成,通过对其施加规定的电压来吸附被处理件。
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