[发明专利]等离子体处理装置有效

专利信息
申请号: 201811365489.7 申请日: 2018-11-16
公开(公告)号: CN109801827B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 佐佐木芳彦;南雅人 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;刘芃茜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种等离子体处理装置。等离子体蚀刻装置具有构成基片载置台(130)的载置面的静电吸盘(132)的绝缘层(145),其中,该基片载置台(130)用于载置作为等离子体处理的对象的基片。绝缘层(145)包括氧化铝、氧化钇和硅化合物。另外,等离子体蚀刻装置(30)具有吸附电极(146),该吸附电极(146)设置在绝缘层(145)内,通过对其施加规定的电压来吸附基片。吸附电极(146)由含镍金属或者含铬金属形成。本发明即使在进行干式清洁的情况下,也能够提高载置台对等离子体的耐受性。
搜索关键词: 等离子体 处理 装置
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,其特征在于,包括:构成载置台的载置面的绝缘层,其中,所述载置台用于载置作为等离子体处理的对象的被处理件,所述绝缘层包括氧化铝、氧化钇和硅化合物;和设置在所述绝缘层内的吸附电极,其由含镍金属或者含铬金属形成,通过对其施加规定的电压来吸附被处理件。
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