[发明专利]一种基于硬卡编程的玻璃表面缺陷的检测方法及装置有效
| 申请号： | 201811367098.9 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN109544527B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 包振健;姚毅;董俊峰;赵云涛;李程 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40;G06T5/50 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于硬卡编程的玻璃表面缺陷的检测方法及装置，在硬卡中实现对原始图像进行图像处理和缺陷检测的操作，分别得到透射明场检测结果图像和透射暗场检测结果图像，再将检测结果图像发送给IPU；IPU根据透射明场检测结果图像、透射暗场检测结果图像和反射明场检测结果图像，得到表面缺陷图像；ICW对表面缺陷图像中的表面缺陷进行分类。本申请技术方案中充分利用硬卡内部的超强并行计算能力及大数据吞吐能力，集中进行图像采集、图像处理和缺陷检测的操作，从而获得计算性能上的优化提升，仅由CPU进行后续图像合并等计算操作，保证CPU的处理速度，减少检测系统中其他计算资源，降低系统成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 编程 玻璃 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于硬卡编程的玻璃表面缺陷的检测方法，其特征在于，包括：硬卡对原始图像进行图像处理，分别得到透射明场全图像、透射暗场全图像和反射明场全图像；所述硬卡分别对所述透射明场全图像和所述透射暗场全图像进行缺陷检测，分别得到透射明场检测结果图像和透射暗场检测结果图像；IPU根据所述透射明场检测结果图像、所述透射暗场检测结果图像和反射明场检测结果图像，得到表面缺陷图像，所述反射明场检测结果图像是由所述IPU对所述反射明场全图像进行缺陷检测得到的；ICW对所述表面缺陷图像中的表面缺陷进行分类。
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