[发明专利]SoC芯片激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统有效
申请号: | 201811368446.4 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109581185B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 尤利达;陈雷;于立新;彭和平;庄伟;张世远 | 申请(专利权)人: | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 徐晓艳 |
地址: | 100076 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了SoC激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统:(1)对待测芯片测试区域镂空处理;(2)若进行动态测试,选择某一模块的功能测试程序,开始功能测试,将测试结果输出;(3)若进行静态测试,则PLL时钟旁路,且停止时钟信号输入,通过电流变化检测电路状态;(4)若进行复位状态测试,则将复位管脚接低,通过复位电路使SoC芯片持续处于复位状态,通过观察电流变化及锁相环频率波形检测电路状态。本发明避免了激光光斑较大对非测试区域产生的影响,提高SoC芯片测试全面性与准确性。 | ||
搜索关键词: | soc 芯片 激光 模拟 粒子 辐照 检测 故障 定位 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.SoC芯片激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法,其特征在于包括复位模式下的步骤:(1‑1)、对SoC芯片待测区域的背面进行开孔处理,露出芯片衬底;(1‑2)、将开孔后的SoC芯片安装在测试板上,所述测试板提供SoC芯片必需的配置信号,使SoC芯片上电后能够正常工作,所述配置信号包括电源信号与时钟信号,时钟信号输入至SoC芯片PLL模块,产生SoC芯片工作时钟;(1‑3)、将待测芯片复位管脚接地,之后,使SoC芯片上电开始工作;(1‑4)、采用激光对准SoC芯片背面开孔区域,进行二维平面扫描照射;(1‑5)、监测SoC芯片工作时钟的波形、内核电流、IO电流,当SoC芯片工作时钟、内核电流、IO电流任意一项出现异常时,则认为SOC芯片待测区域出现故障,停止激光照射,结束测试。
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