[发明专利]一种光模块的检测方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201811376796.5 | 申请日： | 2018-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN109525308B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 王林;刘法志 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光模块的检测方法，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出待测光模块在信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出插入损耗曲线存在超出目标插入损耗区域的部分时，确定待测光模块为不合格的光模块。应用本发明的方法，可以有效地提高光模块的检测效率。本发明还公开了一种光模块的检测装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模块 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种光模块的检测方法，其特征在于，包括：构建在预设的信号频率范围内不同信号频率各自对应的符合插损规范的插入损耗范围，作为构建出的目标插入损耗区域；获取待测光模块中的微带差分线长度，带状差分线长度，过孔数量以及连接器数量；将所述微带差分线长度，所述带状差分线长度，所述过孔数量以及所述连接器数量代入预先构建的第一模型中，确定出所述待测光模块在所述信号频率范围内的插入损耗曲线；当判断出所述插入损耗曲线存在超出所述目标插入损耗区域的部分时，确定所述待测光模块为不合格的光模块。
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