[发明专利]一种小型半导体电嘴结构及加工方法有效

专利信息
申请号: 201811378569.6 申请日: 2018-11-19
公开(公告)号: CN109538357B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 张宁;张玉娟;章雅玲;任拓;高淑娟 申请(专利权)人: 陕西航空电气有限责任公司
主分类号: F02C7/266 分类号: F02C7/266;F02P15/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 陈星
地址: 713107 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出一种小型半导体电嘴结构及加工方法,电嘴结构由壳体、绝缘体、中心电极和衬套组成;壳体采用分段结构焊接而成,上壳体采用4J34铁镍钴合金,下壳体采用GH3044高温合金,绝缘体为管状台阶结构,采用GLC‑58高铝瓷,绝缘体小径端外侧面及端面有半导体釉;中心电极插入绝缘体内,绝缘体装于壳体内部,衬套装于绝缘体和壳体之间,在钎焊部位通过陶瓷金属化钎焊将中心电极、绝缘体和壳体三者焊接为一体。本发明实现了总长为43mm,放电端外径的小型半导体电嘴,产品结构紧凑,用一个绝缘体实现了电嘴半导体特性、密封和绝缘功能;焊接工艺采用陶瓷‑金属封接技术,将中心电极、绝缘体和壳体三者焊接为一体,具有高的结合强度、良好的密封性及优良的耐热性能。
搜索关键词: 一种 小型 半导体 结构 加工 方法
【主权项】:
1.一种小型半导体电嘴结构,其特征在于:由壳体、绝缘体、中心电极和衬套组成;所述壳体采用分段结构焊接而成,分为上壳体和下壳体;上壳体为圆柱薄壁形状,内壁面开有轴向的台阶面,内壁面的大径段作为与衬套钎焊的部位;下壳体为阶梯圆柱结构,形状与绝缘体形状对应;所述绝缘体为管状台阶结构,其大径段外壁面具有一圈轴向凹槽,作为与衬套钎焊的部位,绝缘体内部台阶面作为与中心电极钎焊的部位;绝缘体小径端外侧面及端面有半导体釉;所述中心电极为带台阶的金属杆;所述中心电极插入绝缘体内,绝缘体装于壳体内部,衬套装于绝缘体和壳体之间,在钎焊部位通过陶瓷金属化钎焊将中心电极、绝缘体和壳体三者焊接为一体。
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