[发明专利]显著性检测方法及装置在审
| 申请号： | 201811386757.3 | 申请日： | 2018-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN109741293A | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 郭腾达;徐新;穆楠 | 申请（专利权）人： | 武汉科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06T7/90 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 430081 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种显著性检测方法及装置，其中方法包括：对原始图像以不同尺度分别进行超像素分割，获得不同尺度的分割图像；确定一定数量的低层次特征，计算每种尺度的分割图像在每个低层次特征下的第一特征图，对同一低层次特征下的所有尺度的第一特征图进行融合，获得各低层次特征的第二特征图；对于任意一种尺度的分割图像，利用暗通道和中心先验策略对所述分割图像进行优化，结合各低层次特征的第二特征图，获得所述分割图像的显著图；将所有尺度的分割图像的显著图进行集成，形成最终的显著图。本发明实施例使显著性计算更加合理和准确。 | ||
| 搜索关键词： | 分割图像 层次特征 尺度 特征图 显著图 显著性 显著性计算 像素分割 原始图像 先验 检测 融合 优化 | ||
【主权项】：
1.一种显著性检测方法，其特征在于，包括：对原始图像以不同尺度分别进行超像素分割，获得不同尺度的分割图像；确定一定数量的低层次特征，计算每种尺度的分割图像在每个低层次特征下的第一特征图，对同一低层次特征下的所有尺度的第一特征图进行融合，获得各低层次特征的第二特征图；对于任意一种尺度的分割图像，利用暗通道和中心先验策略对所述分割图像进行优化，结合各低层次特征的第二特征图，获得所述分割图像的显著图；将所有尺度的分割图像的显著图进行集成，形成最终的显著图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉科技大学，未经武汉科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811386757.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
