[发明专利]电子部件测试用分选机

摘要

本发明涉及一种电子部件测试用分选机，根据本发明的电子部件测试用分选机包括：加压器，用于对电子部件进行加压；接触板，夹设于电子部件与构成加压器的推动件之间，其中，在接触板的接触帽配备有温度测量器，通过由温度测量器获取的温度信息控制温度调节部调节电子部件的温度。根据本发明，确保温度测量器的稳定性并能够精确测量关于电子部件的温度，能够掌握推动件与接触帽之间的不良接触等，从而防止不良测试，进而提供测试及设备的可靠性。

主权项

1.一种电子部件测试用分选机，其中，包括：供应部，供应电子部件；加压部，为了使由所述供应部供应的电子部件电连接于测试机的测试插槽而对电子部件进行加压；温度调节部，用于调节通过所述加压部电连接于所述测试插槽的电子部件的温度；回收部，回收通过测试机完成测试的电子部件；以及控制部，控制所述供应部、加压部、温度调节部和回收部，其中，所述加压部包括：加压器，用于对电子部件朝向所述测试插槽侧加压；以及接触板，夹设于所述加压器与电子部件之间，并且具有与电子部件直接接触而对电子部件加压的多个接触帽，其中，所述加压器包括：多个推动件，与所述接触帽一一对应，当进行加压操作时推动所述接触帽，从而能够使所述接触帽接触于电子部件并对电子部件进行加压；设置板，设置有所述多个推动件；以及移动器，使所述设置板向所述测试插槽侧前进或后退，从而使得推动件对所述接触帽加压或者解除加压，其中，所述接触板还包括配备于每个所述接触帽以测量电子部件的温度的多个温度测量器，所述控制部根据由所述温度测量器测量的电子部件的温度信息控制所述温度调节部调节进行测试的电子部件的温度。