[发明专利]配线层结构及其制备方法、焊盘结构在审

专利信息
申请号: 201811391850.3 申请日: 2018-11-21
公开(公告)号: CN111211106A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 吴秉桓;许緁娗 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L23/49 分类号: H01L23/49;H01L23/485;H01L23/488;H01L21/48
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 袁礼君;阚梓瑄
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种配线层结构及其制备方法、焊盘结构,配线层结构包括电介质,电介质内嵌设有导线层,导线层包括框体和连接线,框体至少包括两个开口,将框体划分为多个区段;连接线位于框体内,具有多个连接至框体的连接端,且连接线将框体内部划分为多个区域;其中,每一区段都与任一连接线的连接端连接,每一区域都与任一开口相连通。本发明保证整个导线层和电介质分别为一体结构,提升了导线层内部与电介质的之间的接着力,强化了电介质结构的机械强度,且不增加导线连通顶部焊盘的电阻值。
搜索关键词: 配线层 结构 及其 制备 方法 盘结
【主权项】:
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