[发明专利]快速检验组立精度结构及其方法有效
申请号: | 201811392897.1 | 申请日: | 2018-11-21 |
公开(公告)号: | CN109302839B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 张轩满;陈柏林 | 申请(专利权)人: | 业成科技(成都)有限公司;业成光电(深圳)有限公司;英特盛科技股份有限公司 |
主分类号: | H05K13/08 | 分类号: | H05K13/08 |
代理公司: | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人: | 杨冬梅;张行知 |
地址: | 611730 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明为一种快速检验组立精度结构,包括一第一透光基材以及一第二透光基材。该第一透光基材具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数。该第二透光基材用于与该第一透光基材互相重叠组合,具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码。该条码扫描器用以扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材,当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则该条码扫描器读取到至少一该第一基准条码区块,该条码扫描器得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。并且,本发明还包括一种快速检验组立精度方法。 | ||
搜索关键词: | 快速 检验 精度 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种快速检验组立精度结构,其特征在于,包括:一第一透光基材,具有至少一第一条码,该第一条码具有复数第一基准条码区块,每一该第一基准条码区块具有一条码读数;一第二透光基材,用于与该第一透光基材互相重叠组合,具有与该第一条码互相对应之至少一第二条码,该第二条码之条码形状相同于该第一条码,具有一第二基准条码区块以及复数第二偏移条码区块,该复数第二偏移条码区块分别较该第二基准条码区块向左或向右偏移一偏移间距;以及一条码扫描器,用以扫描互相重叠组合之该第一透光基材以及该第二透光基材,当该第一条码以及该第二条码互相重叠时,则该条码扫描器读取到至少一该第一基准条码区块,该条码扫描器得到对应于至少一该第一基准条码区块之该条码读数。
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