[发明专利]集成电路上电测试方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 201811396944.X | 申请日： | 2018-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN111209182B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种集成电路上电测试方法、集成电路上电测试装置、存储介质及电子设备。本公开实施例提供的集成电路上电测试方法包括：获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到多种上电测试用例；使用所述多种上电测试用例对所述待测试集成电路进行上电测试。本公开实施例提供的集成电路上电测试方法可以形成多种上电测试用例，进而可以对集成电路的各种上电情形进行模拟。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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